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深圳市天創(chuàng)美科技有限公司

  說明:購買設備前,請先咨詢客服有沒有現貨深圳市天創(chuàng)美科技有限公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠...

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合金檢測儀常見故障的科學應對方法分享
合金檢測儀常見故障的科學應對方法分享2025-09-26

合金檢測儀能在數秒內無損分析金屬成分,精準識別合金牌號。其便攜高效的特點使其成為現場檢測的利器。然而,在復雜工況下,合金檢測儀可能會出現檢測結果漂移、讀數異常、...

  • 了解鋼材成分檢測儀各組成部件功能特點才能更好的使用它
    2025-08-20
    鋼材成分檢測儀能夠快速、無損地測定鋼中碳、鉻、鎳、鉬、錳、釩等合金元素的含量,為材料牌號判定、質量控制與工藝優(yōu)化提供關鍵數據支持。鋼材成分檢測儀高效精準的檢測能力,源于多個精密部件的協同運作,共同構建起一套完整的“元素識別系統”。1、X射線管X射線管產生高能射線,照射樣品表面。當X射線與鋼材原子相互作用時,激發(fā)內層電子躍遷,釋放出具有元素特征的二次X射線(即熒光X射線)。其穩(wěn)定性與功率直接影響檢測靈敏度與速度。2、探測器探測器負責接收樣品發(fā)出的熒光X射線,并將其轉化為電信號。...
  • 元素含量檢測儀為環(huán)境監(jiān)測提供可靠的數據支持
    2025-08-04
    在現代科學研究、工業生產及環(huán)境保護中,元素含量檢測儀作為分析物質組成的關鍵工具,發(fā)揮著重要作用。它能夠精確測定樣品中的各種元素含量,為質量控制、新材料開發(fā)及環(huán)境監(jiān)測提供可靠的數據支持。其核心在于通過不同的物理或化學手段激發(fā)樣品中的原子或分子,使其發(fā)出固定波長的光譜信號,再根據這些信號的強度和特征來確定元素種類及其含量。以下是幾種常見的檢測原理:1、X射線熒光(XRF)利用高能X射線照射樣品,使樣品中原子內層電子被激發(fā),當外層電子躍遷填補空位時釋放出特征X射線,通過分析這些X射...
  • 簡述元素含量檢測儀的正確使用步驟及其注意事項
    2025-08-01
    元素含量檢測儀能夠快速準確地測定樣品中的元素種類及其含量,為產品質量控制、環(huán)境保護及新材料研發(fā)提供了強有力的支持。然而,為了確保測量結果的精確性和可靠性,掌握正確的使用方法至關重要。本文將詳細介紹元素含量檢測儀的正確使用步驟及其注意事項。一、樣品制備與處理1、取樣根據待測樣品的具體情況選擇合適的取樣方法。對于固體樣品,可能需要先進行粉碎或研磨處理;液體樣品則應充分混勻后取樣。確保樣品具有代表性,避免局部偏差影響結果。必要時可采用多點取樣并混合均勻的方式。2、樣品處理按照說明書...

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ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀與X熒光光譜儀比較的優(yōu)勢有哪些
ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀與X熒光光譜儀比較的優(yōu)勢有哪些2025-09-23

ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)與X熒光光譜儀(XRF)在元素分析領域各有優(yōu)勢,但ICP-OES在靈敏度、多元素同步分析能力、基體效應控制、線性范圍及自動化程度等方面展現出顯著優(yōu)勢,尤其適用于高精度、痕量及復雜基體樣品的分析需求。以下是具體比較:1.靈敏度與檢出限ICP-OES:采用高溫等離子體激發(fā)樣品,能夠實現亞ppb(十億分之一)級別的痕量元素檢測,靈敏度高。例如,鎳元素檢出限可達4.3μg/L,錳元素為1.4μg/L,適用于環(huán)境監(jiān)測、水質分析等對低含量...

  • 簡述金屬成分測試儀的常見問題相應解決方法
    2025-09-22
    金屬成分測試儀廣泛應用于合金鑒別、廢舊金屬分揀、質量控制等領域,其快速、無損的檢測能力大大提升了工作效率。然而,在復雜多變的現場環(huán)境中,儀器常出現檢測不準、響應遲緩等問題。掌握金屬成分測試儀常見失靈現象的應對策略,是確保數據可靠的關鍵。問題一:檢測結果偏差大或重復性差這是常見的困擾。主要原因是樣品表面狀態(tài)不佳。油污、油漆、氧化層、鍍層或粗糙表面會嚴重干擾信號。解決方法:務必清潔待測面至露出金屬本體,使用砂紙、打磨頭或去污劑處理,并保持表面平整。其次,檢查測量模式是否正確,如合...
  • XRF鍍層測量的技術挑戰(zhàn)與解決方案
    2025-09-10
    X射線熒光(XRF)技術作為無損、快速、精準的鍍層測量方法,已被廣泛應用于制造業質量控制。然而,在實際應用中,諸多復雜因素為其測量帶來了挑戰(zhàn)。本文將探討主要技術挑戰(zhàn)及其相應的解決方案。挑戰(zhàn)一:復雜基體與多元合金鍍層傳統XRF測量依賴于已知的基材和鍍層成分。當遇到多元合金鍍層(如Zn-Ni、Sn-Cu)或未知復雜基體時,元素間的相互干擾(吸收-增強效應)會顯著影響測量精度,導致厚度和成分結果失真。解決方案:現代高性能臺式XRF測厚儀采用基本參數法(FP法)結合先進算法。無需依賴...
  • 了解電鍍膜厚檢測儀各組成部件功能特點才能更好的使用它
    2025-09-01
    電鍍膜厚檢測儀是用于精確測量金屬、合金或非導體表面電鍍層(如金、銀、鎳、鉻、鋅、錫等)厚度的關鍵檢測設備,廣泛應用于電子制造、五金電鍍、汽車零部件、珠寶首飾及質量控制領域。其測量結果直接影響產品性能、耐腐蝕性與成本控制?,F代電鍍膜厚檢測儀多采用X射線熒光(XRF)或渦流、磁感應等無損檢測技術,整機由多個精密部件協同工作,確保測量的準確性、重復性與高效性。1、X射線發(fā)生器作為核心激發(fā)源,X射線管發(fā)射高能射線照射樣品表面,激發(fā)電鍍層原子產生特征X射線熒光。其穩(wěn)定性、靶材類型(如R...
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